中历收藏品鉴定中心

　　鉴定原理及具体方法：将器物或从器物上所取样本放置于EDX-8900系列X荧光分析仪的测量位置，低能X射线管发出X射线激发样品，使样品中不同元素产生出各自的特征X射线，这些特征X射线进入探测器产生脉冲信号，经脉冲谱仪放大器送入信号处理器，信号处理电路将模拟信号转换成数字量，送入单片机接口，软件通过控制接口电路来进行谱数据的采集与控制。分析软件通过对各种特征X射线的强度计算与分析，完成瓷器标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等；铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe 等；陨石Fe、Ni、Si、Mg、Al、Ca等；玉器（Si、Al、Mg、Ca、Fe；等的化学成份含量，工作人员将测试得出的数据含量与相关数据库中标准数据进行比对分析，如因不同年代，不同地区，不同窑口，不同质地，不同形成环境，甚至不同地质特点而产生的细微成分差别，再结合所鉴定物外部特征，放大结构，工艺等综合得出鉴定意见。（在此至广大藏友：因粉末鉴定误差较大，尽量以实物鉴定为准。）

综合鉴定类别：瓷器、玉器、陨石、铜器、金银器、钱币、杂项等等。

EDX-8900系列X荧光分析仪特性：

1．超大型抽真空样品腔，满足不同大小、器形的样品无损检测。

2．实现金属镀层的厚度检测。

3．采用技术精度高、稳定性好、故障率低的高压电源。

4．选用高信噪比的电子线路系统。

5．可自动切换多种选择的3个准直器和4个滤光片。

6．具有光路增强系统。

7．内置双高清晰摄像头，在观察测量点的同时可以同时监控样品在腔体内的状态。并拍下物料照片，作为检测的组成部分。

8． FP与EC相结合的智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，功能强大，操作简单。

9． Windows XP 中文应用软件，独特先进的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便。

10．多变量非线性回归程序。

11．独特的相互独立的基体效应正模型。

12．LED顶灯，为观察样品提供充足的光源。

13．计算机实时监控仪器运行过程中的各个参

14．先进的仪器漂移修正，确保仪器长期稳定。

15．辐射安全系统：隐蔽式设计。硬件及软件结合的四重安全保护模式，辐射安全性高。

16.高效三维散热系统：大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。

三．技术指标：

1．测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）。
2．样品类型：液体、粉末、固体等。
3．测量时间：2秒-200秒。
4．分析范围：ppm—99.99% 。
5．分析精度：0.05%。
6．镀层厚度：最薄至0.01微米。
7．激发系统：应用微聚焦高效长寿命X光管及高压电源，指标达到国际先进水平。最大功率50W。管压5-50KV ，管流0-1000uA。
8．探测系统：原装进口电制冷探测器。超薄窗、大面积、高计数率，良好的能量线性、高峰背比、高分辨率。
9．供电电源：交流220V,50/60HZ。
10．消耗功率：200W。
11．工作温度：15--26℃。
12．相对湿度: ≤70%。
13．外观尺寸： 800×710×1360 mm。
14．样品腔尺寸：600×600×1000mm。
15．重量：280kg。